離子(zi)色譜(pu)儀(yi)的檢測(ce)限如何(he)提高(gao)?
提高(gao)離(li)子(zi)色譜(pu)儀(yi)(IonChromatography,IC)的檢測(ce)限(LimitofDetection,LOD),是實現(xian)痕量甚至超(chao)痕量離(li)子(zi)分(fen)析(xi)的(de)關(guan)鍵(jian)目標,尤其在環境監(jian)測(ce)(如(ru)超(chao)純(chun)水(shui)、雨(yu)水(shui))、食(shi)品安(an)全(quan)(如(ru)食(shi)品中(zhong)亞硝(xiao)酸鹽)、半導體工(gong)業(電(dian)子(zi)級化(hua)學品...